New York - Aeroporto internazionale John F. Kennedy - Trans world arlines terminal - Eero Saarinen

Hammacher, Arno

New York - Aeroporto internazionale John F. Kennedy - Trans world arlines terminal - Eero Saarinen

Descrizione

Autore: Hammacher, Arno (1927-2016), fotografo principale

Luogo e data della ripresa: New York, Stati Uniti d'America, 16/10/1963

Materia/tecnica: gelatina bromuro d'argento/pellicola in rullo negativa (acetato)

Misure: 135 mm (24 x 36 mm)

Collocazione: Milano (MI), Regione Lombardia, fondo Hammacher, AHM foglio 1291 FT. 22a

Classificazione

Genere: architettura

Soggetto: ingegneria civile e militare; trasporti; architettura

Credits

Compilazione: Tonti, Stella (2002)

Aggiornamento: Tonti, Stella (2007)

  Scheda completa SIRBeC (formato PDF)