New York - Aeroporto internazionale John F. Kennedy - Trans world arlines terminal - Eero Saarinen
Hammacher, Arno
Descrizione
Autore: Hammacher, Arno (1927-2016), fotografo principale
Luogo e data della ripresa: New York, Stati Uniti d'America, 16/10/1963
Materia/tecnica: gelatina bromuro d'argento/pellicola in rullo negativa (acetato)
Misure: 135 mm (24 x 36 mm)
Collocazione: Milano (MI), Regione Lombardia, fondo Hammacher, AHM foglio 1291 FT. 22a
Classificazione
Genere: architettura
Soggetto: architettura; ingegneria civile e militare; trasporti
Credits
Compilazione: Tonti, Stella (2002)
Aggiornamento: Tonti, Stella (2007)
Scheda completa SIRBeC (formato PDF)
Link risorsa: https://www.lombardiabeniculturali.it/fotografie/schede/IMM-LOM60-0024661/
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